시유발 전위
시유발 전위 (visual evoked potential; VEP) 란 감각 자극에 대한 신경 계통의 반응을 컴퓨터로 평균화한 것으로 망막 신경절 세포에서 후두엽 시중추까지의 검사에 이용된다. 기능을 검사하기 위하여 사용된다. 시자극을 줄 때 기록되는 중추 신경계의 반응을 기록한 것이며, ISCEV 표준이 2016년 개정되었다.
대상 및 목적
황반부의 기능을 반영하므로 결과의 판독에 있어서 시력 수준에 대한 고려가 있어야 한다. 패턴 자극은 중심의 망막 기능을 반영하므로 중심 시력을 평가하는 목적으로도 사용할 수 있다.
- 시신경 장애가 의심되는 질환
- 시로 장애가 의심되는 질환
- 각막 혼탁, 백내장, 유리체 혼탁 등으로 안저 관찰이 안 되는 경우 잠재적인 시력 평가
- 검안경 소견 상 원인이 불확실한 경우
- 시력 측정이 불가능한 유소아의 시기능 평가
원리
망막에 비춰지는 광자극 또는 빠르게 흑백이 바뀌는 서양 장기판 무늬는 후두엽 시피질에서 분명한 파형인 시유발 전위를 유발시키는 것이 알려져 왔다. 이러한 유발 전위는 여러 파형으로 나타나는데 이들 파형은 시로의 해부학적, 생리학적 구조 또는 상태에 의해 영향을 받는다. 이들 유발 전위 파형의 형태 및 자극 후 그 파형의 최고점까지 도달하는 시간, 진폭을 판단함으로써 신경생리학적 이상을 평가할 수 있다.
지표
진폭 (amplitude)
하나의 파형 요소의 가장 높은 정점에서 선행하는 파형 요소의 가장 낮은 최저점까지 반응의 차이를 의미한다. 이 때 진폭은 주로 ㎶로 표현된다. 섬광 VEP에서 파형의 요소들은 그들의 전압 극성에 따라 N1, P1, N2, … 와 같이 연속적으로 명명된다. 문양 VEP에서 가장 중요한 요소로는 N75, P100, N135 등이 있다. N, P는 각각 기준 전극에 기록되는 전압에 대하여, 후두엽 부위에 부착된 전극에서 기록되는 음의 전압과 양의 전압을 각각 뜻한다. 여기서 각 문자 뒤에 첨부된 숫자는 밀리초 (ms) 로 표시된 정상 요소에서의 최고 잠복기 시간을 의미한다. 잠복기의 절대값은 진폭의 절대값보다 훨씬 신뢰할 수 있는데, 이는 진폭이 정상인에서도 개인차가 크고 환자의 집중도에 영향을 많이 받기 때문이다. 반복하여 측정하였을 때, 정상 개체에서 나타나는 잠복기의 변화가 약 2~5% 정도인 반면, 진폭의 경우 시간을 달리하여 측정하는 경우 약 25%의 높은 변화율을 보인다.
- P1 (또는 P100) : 자극 후 약 100ms 에 나타나는 양성 파형이며, 지연되면 외슬상체 앞쪽의 구심 경로에 이상이 있음을 반영한다. 염증성 시신경병증과 압박 시신경병증을 포함한 대부분의 시신경병증에서는 대개 잠복기가 지연된다. 허혈 시신경병증에서는 잠복기는 정상이고 진폭이 더욱 감소한다.
질환에 따른 결과
망막 질환
황반 원공 및 황반 부종 환자에서 P100 잠복기 지연이 관찰된다. 그러나 이 경우에서 관찰되는 잠복기 지연의 정도는, 동일한 시력을 보이는 시신경염 같은 시신경 질환을 가진 환자의 경우에서보다 지연 정도가 훨씬 적은 양상을 보인다. 황반부 기능의 변화는 검사에 영향을 미칠 수 있으므로, 안저 검사 또는 OCT 등의 다른 검사에서 황반부의 국소적 병변이 동반되지 않고, VEP에서 단안의 이상 소견이 발견된다면, 시신경 교차 부위 이전의 시각 전달 경로의 이상으로 생각할 수 있다. 또한 이와 같은 경우에, 문양 ERG 결과가 정상 소견을 보인다면, 내측 망막 혹은 망막 신경절 세포와 인접한 부위는 정상 기능을 나타낸다고 해석할 수 있으므로 VEP의 이상은 구후 전도 지연에 기인한다고 해석할 수 있다.